Model: Dòng P
Hãng sản xuất: Bowman
– Máy đo chiều dày lớp mạ XRF Series P linh hoạt trong công việc đo nhiều mẫu kích thước, hình dạng phức tạp và số lượng lớn.
– Thiết bị được thiết lập trên bàn đặt mẫu XY có thể thiết lập trình duyệt với độ chính xác cao, người vận hành có thể sử dụng chuột và phần mềm giao diện để chuyển đến thước đo vị trí mong muốn một cách dễ dàng.
– Đa điểm chương trình có thể được tạo để tự động đo nhiều mẫu vị trí chỉ bằng một lần nhấn nút.
– Cấu hình tiêu chuẩn bao gồm ống chuẩn trực 04 vị trí và camera tiêu cự thay đổi.
– Ống trực tiếp và tiêu cự khoảng cách có thể được tùy chỉnh cho ứng dụng
– Cảm biến PIN cùng với ống tia X siêu nhỏ có tuổi thọ cao ( tùy chọn SSD)
– Đáp ứng tiêu chuẩn: IPC-4552A, 4553A, 4554, 4556, ASTM B568, DIN 50987 và ISO 3497
Thông số kỹ thuật:
– Khoảng đo: Nhôm 13 tới Uranium 92
– Tia X: 50 W (50kV và 1mA)
– Độ phân giải biến cảm ứng 190eV hoặc cao hơn
– Phân tích: 5 lớp đồng thời (4 lớp phủ + lớp nền) và 10 nguyên tố trong mỗi lớp, phân tích thành phần tới 25 nguyên tố đồng thời.
– 04 bộ lọc chính
– 04 ống chuẩn trực điều khiển bằng động cơ
– Độ sâu tiêu cự: cố định độ sâu tiêu cự bằng laser
– Xử lý xung kỹ thuật số: 4096 CH máy phân tích đa kênh kỹ thuật số với thời gian định hình linh hoạt.
– Máy tính: Intel, Bộ xử lý CORE i5 3470 (3,2 GHz), Bộ nhớ DDR3 8 GB, Microsoft Windows 10 Prof, 64 bit
– Camera: 1/4″ (6mm) CMOS-1280×720 VGA
– Video phóng đại: 30X | 45X
– Nguồn điện: 150W, 100-240V; 47Hz tới 63Hz
– Bảng mẫu có khả năng thiết lập trình điều khiển/động cơ điều khiển (XY): Kích thước bảng: 381mm x 340mm | Hành trình: 152mm x 127mm
– Mở rộng trình cài đặt mẫu (XY): Kích thước bảng: 635mm x 635mm | Hành trình: 254mm x 254 mm
– Kích thước trong: (HxWxD): 100mm x 325mm x 300mm
– Kích thước ngoài: 325mm x 350mm x 450mm
– Trọng lượng: 32kg – 50kg
